(AFM (Atomic Force Microscopy

 

نام دستگاه: (AFM (Atomic Force Microscopy

AFM بطور گسترده برای بررسی توپوگرافی سطح انواع مختلفی از نمونه ها بکار می رود.

میکروسکوپی است که از نیروی یونی و رانش اتمها در جهت ساخت تصویر مجازی از سطح جسم بهره می جوید و اغلب "چشم نانوتکنولوژینامیده می شود. امروزه استفاده های زیادی از AFM در ابعاد مولکولی و اتمی در رشته های علوم نانو و نانوتکنولوژی می شود. AFM بطور گسترده برای بررسی توپوگرافی سطح انواع مختلفی از نمونه ها بکار می رود.

اصول کلی کار AFM بدین صورت است که یک سوزن بسیار تیز و ظریف ((Tip به نوک یک شیء با قابلیت ارتجاع، به نام تیرک (Cantilever) وصل شده و سر دیگر تیرک به یک بازوی پیزو الکتریک  متـصل شـده اسـت. به هنگام مجاورت سوزن با سطح نمونه، نیرویی به سوزن وارد می شود که بزرگی و جهت آن وابسته به فاصله نوک سوزن از سطح وهمچنین نوع سطح است. نیروی ناشی از سطح باعث خم شدن تیرک می شود و باریکه لیزر در صفحه عمود بر افق جابجا می شود. در نتیجه با آگاهی از میزان خمیدگی تیرک توسط دیودهای نوری و از طرفی معلوم بودن مکان انتهایی تیرک، موقعیت فضایی سوزن مشخص می شود و نتیجه در نمایشگر کامپیوتر به صورت یک سطح سه بعدی رسم می شود.

مشخصات دستگاه:

مدل Nanosurf Mobile S شرکت  Nanosurf سوئیس

 

 

مدیر آزمایشگاه: دکتر محمود زارعی

زمینه تخصصی: شیمی

تلفن تماس: 33393918-041